Thorlabs中紅外光纖
- 產品型號：
- 更新時間：2023-12-19
- 產品介紹：Thorlabs中紅外光纖Thorlabs能夠制造多種中紅外光纖和光纖跳線；其他纖芯尺寸和配置的光纖還在研發當中。庫存以供當天發貨的標準產品包括單模和多模跳線，以及用于透射應用的分叉光纖束和用于光譜應用的反射/散射探測光纖束。這些產品中所用光纖的規格包含在下表中。如需中紅外裸纖，請聯系技術支持。
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產品介紹
| 品牌 | Thorlabs | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學元件 | 應用領域 | 電子/電池 |
Thorlabs中紅外光纖
Thorlabs中紅外光纖特性
ZBLAN氟化鋯(ZrF4)光纖，透射范圍從285 nm到4.5 µm
氟化銦(InF3)光纖，透射范圍從310 nm到5.5 µm
多模光纖和跳線選項：
纖芯尺寸： Ø100- Ø600 µm
數值孔徑：0.20- 0.26
中紅外單模光纖和跳線選項：
ZrF4：單模工作范圍2.3 - 4.1 µm
InF3：單模工作范圍3.2 - 5.5 µm
提供光纖束和反射/散射探測光纖束
靈活的生產工藝，用于標準產品和定制產品(詳情請看中紅外制造標簽)
應用
光譜學
光纖激光器
超連續譜光源
環境監測
醫學診斷
化學傳感
紅外成像
Thorlabs能夠制造多種中紅外光纖和光纖跳線；其他纖芯尺寸和配置的光纖還在研發當中。庫存以供當天發貨的標準產品包括單模和多模跳線，以及用于透射應用的分叉光纖束和用于光譜應用的反射/散射探測光纖束。這些產品中所用光纖的規格包含在下表中。如需中紅外裸纖，請聯系技術支持。
我們的IRphotonics®中紅外光纖和跳線，基于ZBLAN氟化鋯(ZrF4)和氟化銦(InF3)玻璃，提供出色的機械靈活性，良好的環境穩定性，分別在285 nm - 4.5 µm或310 nm - 5.5 µm光譜范圍上具有較高的透射率。與我們的其余光纖選擇相同，氟化物光纖也具有一系列纖芯直徑、截止波長和數值孔徑，適合于多種應用(請看下表中的光纖規格)。
這些光纖用專有技術制造，提供世界的純度、尺寸控制和強度。這種技術使我們能佳地控制光纖的光學和機械性質，可以實現許多種配置(更多信息，請看中紅外制造標簽)。氟化物光纖在中紅外波長范圍內提供一個平坦的衰減曲線(見曲線標簽)，這是因為它們的羥基(OH)含量極低。氟化物玻璃的折射率接近石英的折射率；因此，與硫化物玻璃相比，用氟化物玻璃制成的光纖具有更低的回波損耗和更低的菲涅耳反射。
氟化鋯(ZrF4)光纖在中紅外波段提供比氟化銦(InF3)光纖更平坦的衰減度，而InF3光纖比ZrF4
光纖在更長波長下透光。通常使用于光纖跳線的石英光纖在中紅外波段不透光。更多關于光纖跳線之間的不同，請看曲線標簽。
定制您的中紅外光纖和跳線
庫存有多種類型的單模和多模氟化物光纖跳線，我們也提供分叉光纖束和反射/散射探測光纖束。我們正在開發許多其它纖芯和配置的跳線。
裸纖
手動選擇超低損耗中紅外光纖，滿足嚴格的衰減要求
定制纖芯和包層幾何形狀
提供雙聚合物包層
功率承受能力加強
跳線
定制選項：光纖類型、長度、終端和套管
OEM跳線
鍍增透膜的跳線
加強型跳線，用于惡劣的環境
中紅外多模光纖規格
Fiber Type | Operating | Core | Attenuationb | NA | Long-Term | Short-Term | Cladding | Coating | Operating |
ZrF4 | 285 nm - 4.5 µm | 100 ± 2 µmc
| 0.20 ± 0.02 | ≥155 mm | ≥25 mm | 192 ± 2.5 µm | 270 ± 15 µm | -55 to 90 °C | |
200 ± 10 µmc,d | ≥80 mm | ≥40 mm | 290 ± 10 µm | 355 ± 15 µm | |||||
450 ± 15 µmc,e | ≥125 mm | ≥30 mm | 540 ± 15 µm | 650 ± 25 µm | |||||
600 ± 20 µmc,e | ≤0.25 dB/m | ≥160 mm | ≥75 mm | 690 ± 20 µm | 770 ± 30 µm | ||||
InF3 | 310 nm - 5.5 µm | 100 ± 2 µmc | ≤0.45 dB/m | 0.26 ± 0.02 | ≥155 mm | ≥15 mm | 192 ± 2.5 µm | 287 ± 15 µm | -55 to 90 °C |
a. 光纖的工作波長范圍定義為衰減度小于3 dB/m的區域(每米透過率大于50%)。
b. 請看上面的曲線圖。
c. 庫存提供使用這些光纖制造的跳線。
d. 庫存提供使用這些光纖制造的反射探測光纖束。
e. 庫存提供使用這些光纖制造的分叉光纖束。
中紅外單模光纖規格
| Fiber Type | TransmissionRange | SM OperatingWavelength | Core Diametera | Attenuation | NA | Long-TermBend Radius | Short-TermBend Radiusb | OperatingTemperature |
| ZrF4(ZBLAN) | 285 nm - 4.5 µm | 2.3 - 4.1 µm | 9 ± 0.5 µm | < 0.2 dB/m (from 2.3 - 3.6 µm) | 0.19 ± 0.02@ 2 µm | ≥30 mm | ≥10 mm | -55 to 90 °C |
| InF3 | 310 nm - 5.5 µm | 3.2 - 5.5 µm | 9 ± 0.5 µm | < 0.45 dB/m(from 3.2 - 4.6 µm) | 0.26 ± 0.02@ 2 µm | ≥30 mm | ≥10 mm | -55 to 90 °C |
a. 庫存提供使用這些光纖制造的跳線。
b. 測量用于Ø125 µm包層
如有裸纖和定制跳線相關的需求，請聯系技術支持。
多模氟化物光纖跳線
該曲線圖包含五根獨立的Ø200 µm纖芯的ZrF4光纖的測量衰減度。該數據代表我們的Ø100 µm, Ø200 µm和Ø450 µm纖芯的光纖。
該曲線圖含有從五根獨立的Ø600 µm纖芯的ZrF4光纖測量的衰減度。
該曲線圖包含從五根獨立的Ø100 µm纖芯的InF3光纖測量的衰減度。
制造能力
制造ZBLAN氟化鋯(ZrF4)和氟化銦(InF3)光纖
在高達5.5 µm的中紅外波段透光且損耗低
靈活的生產設備和計劃，可生產原型和標準產品
Thorlabs的光纖拉絲制造間除了生產石英光纖外，還能生產ZBLAN氟化鋯(ZrF4)和氟化銦(InF3)光纖。ZrF4和InF3光纖分別在300 nm - 4.5 µm或300 nm - 5.5 µm光譜范圍上透過率較高，且沒有材料吸收峰值，具有出色的機械強度和良好的環境穩定性。
氟化物光纖是在中紅外波段透光的理想選擇。中紅外波段的低衰減度由極低羥基(OH)含量輔助實現。對比于其它在中紅外范圍內透光的光纖，氟化物光纖還具有更低折射率和更低的色散。Thorlabs的氟化物光纖非常適合用于包含中紅外光譜、光纖傳感器、成像和光纖激光的應用。
氟化物預成型件的生產和光纖拉絲工藝
Thorlabs的氟化物光纖利用能提供世界純度、尺寸控制和強度的技術制造。玻璃成分在手套箱受控環境中混合和熔化，實現高純度。玻璃熔化后，將它倒入預成型磨具中，并進行冷卻。
制備之后，將預成型件裝入光纖塔頂部的下料單元當中，拉絲成光纖。氟化物玻璃光纖利用與石英光纖相似的預成型技術進行拉絲。該技術已經非常成熟，并且被證實在控制光纖參數方面非常有效，比如光纖直徑、同心度和折射率。氟化物玻璃的拉絲溫度范圍低于石英，顯著縮短了冷卻時間。因此，我們的氟化物光纖塔比石英光纖塔矮很多。右下圖為我們氟化物光纖塔的細節。
Thorlabs的中紅外光纖研究人員和工程師團隊在氟化物玻璃研究和開發、生產和光纖拉絲方面有許多年豐富經驗。我們的團隊分為兩組：一組人員致力于目錄產品的生產，第二組人員致力于研發和定制光纖產品的制造。它們的專業知識，加上光纖塔的靈活配置和拉絲時間表，使我們能夠生產產品目錄中的產品以及定制產品。關于我們定制氟化物光纖能力的詳情，請聯系技術支持。
氟化物光纖表征和測試
Thorlabs擁有一支致力于測試和表征我們光纖產品的團隊。我們測量每根拉伸光纖的性能，以確保其符合我們的高標準質量。廣泛的測試也為我們的光纖拉絲團隊提供反饋，從而能夠嚴格控制制造過程中的每一步。客戶可以要求對任何Thorlabs生產的光纖進行定制測試，然后隨附出貨光纖。也可根據要求測試客戶提供的第三方光纖樣品。可用的測試和服務在右邊的列表中提供；請聯系技術支持咨詢。
測試和表征能力
光譜衰減測量
UV / Visible / NIR / MIR波段
SM或MM光纖和塊狀玻璃
SM光纖截止波長測量
光纖NA測量
光纖玻璃/涂覆層幾何圖形測量，測量準確度達到亞微米級
多模光纖中紅外高功率屏蔽
光纖拉力測試
缺陷/破損分析
光纖涂覆層的固化程度測試
如需Thorlabs或第三方光纖的測試，請聯系技術支持。
中紅外光纖拉絲塔示意圖
實驗觀測
Thorlabs實驗觀測：利用多模光纖修改光束輪廓
我們在此給出探索多模光纖輸出光束輪廓如何受到光束入射角影響的實驗測量結果。有些應用中可能需要其他諸如高帽或甜甜圈等輪廓的光束分布，而不需要一般光學元件提供的固有高斯分布。這里，我們探索了改變聚焦激光束進入多模光纖跳線時的入射角所產生的影響。將光垂直聚焦于光纖面，會產生近高斯輸出光束輪廓(圖1)，增大入射角則會產生高帽(圖2)和甜甜圈(圖3)形狀的光束輪廓。這些結果展現了利用多模光纖改變光束輪廓的方法。
實驗中，我們使用一根M38L01纖芯?200 μm、數值孔徑0.39的階躍折射率光纖跳線(裸纖型號FT200EMT)作為聚焦光束耦合的待測光纖。將輸入光以0°、11°和15°入射到多模光纖的入射面，分別產生初始輪廓、高帽輪廓和甜甜圈輪廓。每次改變角度時，都要優化輸入光纖的對準，同時用功率計監測輸出功率，確保實現大的耦合。然后，在9秒的曝光時間下采集圖像，并評估光束輪廓的形狀。注意，曝光過程中，會在耦合光學元件之間(待測光纖之前)手動旋轉1500 grit的散射片，以減少空間相干，形成干凈的輸出光束輪廓。
假設一種光線追跡模型，存在兩種沿著多模光纖傳播的常見光線：(a)子午光線，每次反射之后都通過光纖的中心軸，和(b)斜光線，不通過光纖的中心軸。下面的圖片展現了實驗過程中觀察到的三種基本光線傳播情況。圖4和圖6分別繪制出了子午光線和斜光線通過多模光纖的傳播，以及在光纖輸出端的相關理論光束分布。如圖6所示，斜光線沿著光纖以與半徑r為圓的內部焦散線相切的螺旋路徑傳播。圖5描繪了子午光線和斜光線的光束傳播和光束分布。我們通過改變光耦合到多模光纖的入射角，修改子午光線與斜光線的傳播，使輸出光束從近高斯分布(主要是子午光線，請看圖1)變成高帽分布(子午光線和斜光線混合，請看圖2)，再變成甜甜圈分布(主要是斜光線，請看圖3)。圖4到圖6顯示的光束輪廓都在離光纖端面5 mm處獲得。這些結果體現了利用標準的多模光纖跳線以一種相對低成本的方法將入射高斯輪廓修改成高帽和甜甜圈輪廓，且損耗極微。有關使用的實驗裝置和總結結果詳情，請點擊這里。
圖 1.
入射角為0°時獲得的近高斯光束輪廓(垂直于光纖面)
圖 2.
入射角為11°時獲得的高帽光束輪廓
圖 3.
入射角為15°時獲得的甜甜圈光束輪廓
圖 4.
對應近高斯輸出輪廓的子午光線傳播
圖 5.
對應甜甜圈輪廓的斜光線傳播
圖 6.
對應高帽輪廓的子午光線和斜光線傳播
